【身份证】首代智能身份证劣评如潮　芯片生锈脱落　e道感应差

全港市民将陆续更换新一代智能身份证。第一代智能身份证使用至今已有14年，由纸本过胶演变至成由标榜耐用的不碎胶制成，可谓一大进步。不过，智能身份证亦曾有缺憾，包括芯片易生锈，甚至整个脱落。有港人更曾因芯片无故失效而未能使用出入境专用的 e- 道服务。新一代智能身份证亦同样保留芯片，“悲剧”会否再现？

第一代智能身份证于2003年推出，以聚碳酸不碎胶制成。入境处网站称这是一种十分耐用可靠的物料，对物理、化学和温度等变化及环境的影响的抵御力十分强。事实又如何？

有网民早前于讨论区上载一张智能身份证背面照片，其中整个芯片位置脱落，留下一个方型小洞。该网民更指是旅行前一周才发现身份证变成此模样，幸好网民献计称可用护照，旅行才不至泡汤。

换证十年　5.5万宗芯片损坏个案

不过，并非人人如此幸运。其中为上巿公司主席的专栏作家卢先亚就于2012年在罗湖出境时使用e道，其后发现身份证芯片外翘，惟未有理会。回港后再到人事登记处观塘办事处办理补领手续，却被指是人为问题致身份证损坏，需缴付335元补领费。

商务及经济发展局2014年回复立法会议员质询时就指，自2003年6月至2013年12月底，入境事务处共签发超过1,100万张智能身份证，其中因芯片损坏而须换证的个案约有55,000宗，占总签发量的0.49%。

入境处：勿以磁石触碰身份证芯片

芯片另一问题是容易生锈。早于 2004年开始，就不时有市民投诉即使将身份证放入胶套，芯片亦会生锈，因此未能使用“e道”，当时有分析指因本地较潮湿，令芯片容易生锈。

当时有学者教路，如发现芯片生锈，可尝试用酒精抹掉，亦有网民称可用擦胶擦掉锈迹。入境处当时就指，香港智能身份证以耐用物料制成，设计使用年期不少于十年。入境处亦提醒市民切勿折曲或以磁石触碰身份证及不要把身份证与钥匙或硬币放在一起。使用电子证书功能时，避免搓刮芯片和切勿拆出身份证内的芯片。